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文档摘要

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边界扫描测试算法与BIST技术：原理、实现与应用探索

一、引言

1.1研究背景与意义

随着科技的飞速发展，数字集成电路在现代电子产品中扮演着至关重要的角色，广泛应用于通信、计算机、汽车电子、航空航天等众多领域。从智能手机中实现高速数据处理与通信的芯片，到计算机核心处理器实现复杂的运算任务，再到汽车自动驾驶系统中用于感知和决策的集成电路，数字集成电路的性能和可靠性直接决定了这些电子产品的功能和质量。

然而，随着数字集成电路的集成度不断提高、复杂度持续增加以及芯片尺寸逐渐减小，其测试面临着前所未有的挑战。在早期的集成电路发展阶段，芯片规模较小、功能相对简单，传统的测试方法，如探针测试、功能测试等