混合集号集成电路BIST中模拟信号发生器的设计与性能优化研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代电子技术飞速发展的浪潮中，集成电路作为电子设备的核心部件，其应用领域不断拓展，从日常的智能手机、平板电脑，到高端的航空航天、医疗设备等，集成电路无处不在，发挥着至关重要的作用。随着电子产品功能日益复杂和多样化，对集成电路的性能要求也越来越高，这促使集成电路朝着混合信号集成电路的方向发展。混合信号集成电路融合了模拟电路和数字电路，能够处理和传输模拟信号与数字信号，大大拓展了集成电路的应用范围，然而，这种复杂性也给集成电路的测试带来了前所未有的挑战。

传统的集成电路测试方法在面对混合信号集成电路