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文件名称:2025年5G基站芯片3nmGAAFET工艺可靠性评估报告.docx
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更新时间:2025-10-07
总字数:约1.19万字
文档摘要

2025年5G基站芯片3nmGAAFET工艺可靠性评估报告范文参考

一、2025年5G基站芯片3nmGAAFET工艺可靠性评估报告

1.15G基站芯片技术发展背景

1.23nmGAAFET工艺概述

1.33nmGAAFET工艺在5G基站芯片中的优势

1.43nmGAAFET工艺在5G基站芯片中的挑战

二、3nmGAAFET工艺在5G基站芯片中的应用与挑战

2.13nmGAAFET工艺在5G基站芯片中的应用现状

2.23nmGAAFET工艺在5G基站芯片中的性能提升

2.33nmGAAFET工艺在5G基站芯片中的可靠性挑战

2.43nmGAAFET工艺在5G基站