基于干涉条纹特征的相移相位测量方法的深度剖析与创新应用

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科学技术的众多领域中，相位测量扮演着举足轻重的角色，尤其是在光学领域，其重要性愈发凸显。相位作为光场的关键属性之一，蕴含着丰富的信息，这些信息与物体的形态、表面形貌、光学参数等紧密相关。例如，在光学成像领域，相位信息对于揭示物体的精细结构和特性至关重要。在生物医学成像中，通过相位测量可以获取细胞、组织等生物样本的形态和折射率分布等信息，为疾病诊断和生物研究提供有力支持；在材料科学中，相位测量能够帮助研究人员了解材料的微观结构和光学性质，推动新型材料的研发。

干涉测量技术作为获取高精度测量结果的重要手