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文件名称:钠、钴共掺氧化锌稀磁半导体薄膜:制备工艺与性能关联探究.docx
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总页数:25 页
更新时间:2025-10-06
总字数:约3.28万字
文档摘要
钠、钴共掺氧化锌稀磁半导体薄膜:制备工艺与性能关联探究
一、引言
1.1研究背景与意义
随着信息技术的飞速发展,对半导体材料性能的要求不断提高,稀磁半导体(DilutedMagneticSemiconductors,DMS)应运而生,成为材料科学领域的研究热点之一。稀磁半导体是指在传统半导体中引入磁性离子,使其同时具备半导体的电学特性和磁性材料的磁学特性,这种独特的复合特性为开发新型电子器件提供了可能,有望推动自旋电子学、量子计算等前沿领域的发展。
在众多稀磁半导体材料中,氧化锌(ZnO)基稀磁半导体由于其自身的优异性能而备受关注。ZnO是一种直接宽带隙半导体,室温下带隙宽度约为3