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文件名称:无铅钎焊界面Cu6Sn5生长行为及多因素影响机制研究.docx
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更新时间:2025-10-07
总字数:约4.15万字
文档摘要

无铅钎焊界面Cu6Sn5生长行为及多因素影响机制研究

一、引言

1.1研究背景

随着现代科技的飞速发展,电子设备正朝着小型化、轻量化、高性能和高可靠性的方向迈进。在这一发展趋势下,电子封装技术作为实现电子器件电气连接、物理支撑和环境保护的关键技术,其重要性日益凸显。而无铅钎焊技术作为电子封装领域的核心技术之一,更是受到了广泛的关注和深入的研究。

传统的铅锡钎料由于其良好的导电性、较低的熔点和优异的润湿性,长期以来在电子封装领域占据主导地位。然而,铅是一种有毒重金属,在生产、使用和废弃处理过程中,会对环境和人类健康造成严重危害。随着环保意识的增强和相关环保法规,如欧盟的《关于限制在电子电气设备