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文件名称:简易LD特性参数测试系统关键技术的深度剖析与实践.docx
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总页数:100 页
更新时间:2025-10-09
总字数:约8.09万字
文档摘要
简易LD特性参数测试系统关键技术的深度剖析与实践
一、引言
1.1研究背景与意义
自20世纪60年代半导体激光器(LaserDiode,LD)问世以来,凭借其波长范围宽、成本低、制作简单、体积小、质量轻以及寿命长等显著优势,在光电子学领域迅速崛起并成为核心技术,广泛应用于军事、医疗、自动控制、光电检测、雷达通讯等诸多领域。在军事领域,LD被用于激光制导武器、激光雷达等,其精确的光束控制和高能量输出能够有效提升武器的打击精度和探测距离;在医疗领域,激光手术、激光治疗等技术依赖于LD的特性,实现对病变组织的精准治疗,具有创伤小、恢复快等优点;在自动控制和光电检测中,LD作为光