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文件名称:超声雾化热解法:探索ZnO薄膜制备与性能的新路径.docx
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更新时间:2025-10-09
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文档摘要

超声雾化热解法:探索ZnO薄膜制备与性能的新路径

一、引言

1.1ZnO薄膜概述

ZnO作为一种重要的宽禁带半导体材料,在现代材料科学领域中占据着举足轻重的地位。其独特的晶体结构赋予了它众多优异的物理化学性质,使其在多个领域展现出巨大的应用潜力。ZnO薄膜具有六方纤锌矿结构,这种晶体结构决定了其原子排列方式和电子云分布,进而影响其各种性能。在这种结构中,Zn原子和O原子通过离子键和共价键相互作用,形成稳定的晶格结构,为其物理性质提供了坚实的基础。

从电学性质来看,ZnO薄膜表现出良好的半导体特性。本征ZnO薄膜具有一定的导电性,这源于其内部存在的本征施主缺陷,如间隙Zn