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文件名称:基于RFID的SOC芯片测试技术的深度剖析与实践应用.docx
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总页数:38 页
更新时间:2025-10-11
总字数:约5.02万字
文档摘要

基于RFID的SOC芯片测试技术的深度剖析与实践应用

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今数字化与智能化飞速发展的时代,射频识别(RFID,RadioFrequencyIdentification)技术与片上系统(SOC,SystemonChip)芯片作为现代信息技术的关键组成部分,正深刻地改变着人们的生活和各行业的运作模式,在科技领域占据着举足轻重的地位。

RFID技术是一种通过射频信号实现对目标对象的自动识别和数据交换的无线通信技术,无需直接接触或光学可视即可完成识别过程。其工作原理基于电磁感应、无线电波传播等基础理论,由电子标签、读写器和信息处理系统构成。电子标签存储着被识