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文件名称:实施指南(2025)《GB_T17473.3-2008微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定》.pptx
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总页数:52 页
更新时间:2025-10-13
总字数:约小于1千字
文档摘要

;目录;;;当前微电子行业对贵金属浆料方阻测试的需求与该标准的匹配度;;;;;;;;;;;;不同原理(如二探针法)与标准规定方法的对比及标准选择四探针法的原因;;;先用乙醇清洗样品表面油污,再在80℃烘箱干燥30分钟,必要时在300℃退火1小时。严格按规范处理,去除样品表面杂质和应力,保证测试准确性。;测试仪器(四探针测试仪、万用表等)的校准方法及校准周期要求;;;;;;;;样品放置环节的关键要求(如定位精度、与探针接触状态)及控制方法;;电压测量环节的操作规范(如测量时机、数据读取)及易出错点;2;;;有效结果的记录方式及标准中对记录内容(如样品信息、测试参数)的要求;;STE