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文件名称:嵌入式存储器内建自测试算法:演进、挑战与创新.docx
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总页数:22 页
更新时间:2025-10-15
总字数:约2.76万字
文档摘要

嵌入式存储器内建自测试算法:演进、挑战与创新

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今数字化时代,嵌入式系统已广泛渗透到人们生活的各个领域,从智能家居、可穿戴设备到工业控制、航空航天等,其身影无处不在。作为嵌入式系统的关键组成部分,存储器承担着存储程序代码和数据的重任,是保障系统正常运行的核心要素。随着嵌入式系统应用场景的日益复杂和多样化,对其可靠性和稳定性的要求也达到了前所未有的高度。在许多关键应用中,如医疗设备、汽车电子和航空航天等领域,嵌入式系统一旦出现故障,可能会引发严重的后果,甚至危及生命安全和造成巨大的经济损失。因此,确保嵌入式存储器的可靠性和稳定性成为了嵌入式系统设计中至关重要的