数字集成电路测试：数据压缩与功耗协同优化的深度剖析与实践

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代电子信息技术飞速发展的时代，数字集成电路作为各类电子设备的核心部件，广泛应用于计算机、通信、消费电子、汽车电子等众多领域。从智能手机中实现高速数据处理和通信功能的芯片，到计算机中央处理器（CPU）保障复杂运算的高效运行，数字集成电路的性能与可靠性直接决定了电子设备的功能和质量。随着集成电路技术按照摩尔定律不断演进，芯片的集成度持续提高，晶体管数量呈指数级增长，这使得数字集成电路的规模越来越大、功能越来越复杂。

对数字集成电路进行全面且精确的测试成为确保其质量和可靠性不可或缺的环节。在芯片制造过程