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基于STC89系列单片机，根据数字集成芯片的引脚特性以及集成芯片的真值表编写测试程序。从数字集成电路的原始输入端施加若干输入矢量作为激励信号，观察由此产生的输出响应，并与预期的正确结果进行比较，一致则表示芯片完好，不一致则表示芯片有故障。该系统能完成14脚以内常用TTL74、54系列数字集成芯片的功能测试。

关键词：芯片检测；TTL74、54系列芯片；功能测试

Abstract

BasedonSTC15SeriesMCU,thetestprogramiswrittenaccordingtothepincharact