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文件名称:深度赋能:基于深度学习的电镜图像超分辨率技术探究与实践.docx
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更新时间:2025-10-18
总字数:约3.94万字
文档摘要
深度赋能:基于深度学习的电镜图像超分辨率技术探究与实践
一、引言
1.1研究背景与意义
在现代科学研究和工业生产中,电子显微镜(EM)作为一种能够深入微观世界的关键工具,发挥着不可替代的重要作用。电子显微镜利用电子束替代传统光学显微镜中的光束,突破了光学衍射极限的限制,能够为我们呈现出物质在纳米甚至原子尺度下的精细结构。这使得科研人员在材料科学、生物学、物理学等诸多领域实现了前所未有的微观探索。
在材料科学领域,对新型材料微观结构的深入了解是开发高性能材料的基石。借助电子显微镜,科研人员能够观察到材料内部原子的排列方式、晶体结构的缺陷以及纳米级别的相分布,从而为材料性能的优化和新材料的设计提