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第八章使用IQ+

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8.11使用He或N2介质校正的设定

为确定介质的校正系数，对于每个测量条件必须测量一个通道，首先在真空中测量，然后在He气中测量。在用默认的定性程序时，这意味着一个扫描段需要一个通道，使用PE晶体的两个扫描段可以测量一个通道，因为两个扫描段使用的是同一种测量条件）。轻元素的非线性衰减在软件中是经过预先编程的。

使用介质（He或者N2）的校正设定应执行以下步骤：

建一个新的仪器监控；

测量监控样品；

计算介质校正系数；

8.11.1创建一个新仪器监控

点击任务条上的按钮；

点击按钮；

显示系统设定应用