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文件名称:芯片封装的抗静电放电ESD测试方案.pdf
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总页数:21 页
更新时间:2025-10-19
总字数:约2.29万字
文档摘要

芯片封装的抗静电放电(ESD)测试方案范文

参考

一、芯片封装的抗静电放电(ESD)测试方案

1.1概述ESD测试的重要性

1.1.1ESD测试在半导体芯片封装领域的重要性

1.1.2ESD测试的意义与商业价值

1.1.3ESD测试在产业链中的连接作用

1.2ESD测试的原理与方法论

1.2.1ESD测试的核心原理

1.2.2常见的ESD测试方法

1.2.3测试设备选型与校准

二、芯片封装ESD测试方案的设计与实施

2.1测试标准的解读与转化

2.1.1将国