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文件名称:芯片封装的抗静电放电ESD测试方案.pdf
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总页数:21 页
更新时间:2025-10-19
总字数:约2.29万字
文档摘要
芯片封装的抗静电放电(ESD)测试方案范文
参考
一、芯片封装的抗静电放电(ESD)测试方案
1.1概述ESD测试的重要性
1.1.1ESD测试在半导体芯片封装领域的重要性
1.1.2ESD测试的意义与商业价值
1.1.3ESD测试在产业链中的连接作用
1.2ESD测试的原理与方法论
1.2.1ESD测试的核心原理
1.2.2常见的ESD测试方法
1.2.3测试设备选型与校准
二、芯片封装ESD测试方案的设计与实施
2.1测试标准的解读与转化
2.1.1将国