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文件名称:电子元器件失效分析技术与案例.pdf
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总页数:6 页
更新时间:2025-10-19
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文档摘要

电子元器件失效分析技术与案例

费庆学

二站开始使用电子器件当时电子元器件的寿命20h.

Americanfrom1959开始:1。可靠性评价,预估产品寿命2。可靠性增长。不

一定知道产品寿命,通过方法延长寿命。通过恶裂环境的试验。通过改进提高

寿命。―――后来叫a.可靠性物理—实效分析的实例b.可靠数学

第一部分:电子元器件失效分析技术(方法)第一部分:电子元器件失效分析技术(方法)

1.失效分析的基本的概念和一般程序。

A定义:

对电子元器件的失效的原因的诊断过程

b.目的:0000000

c.失效模