基本信息
文件名称:电子元器件失效分析技术与案例.pdf
文件大小:142.76 KB
总页数:6 页
更新时间:2025-10-19
总字数:约6.19千字
文档摘要
电子元器件失效分析技术与案例
费庆学
二站开始使用电子器件当时电子元器件的寿命20h.
Americanfrom1959开始:1。可靠性评价,预估产品寿命2。可靠性增长。不
一定知道产品寿命,通过方法延长寿命。通过恶裂环境的试验。通过改进提高
寿命。―――后来叫a.可靠性物理—实效分析的实例b.可靠数学
第一部分:电子元器件失效分析技术(方法)第一部分:电子元器件失效分析技术(方法)
1.失效分析的基本的概念和一般程序。
A定义:
对电子元器件的失效的原因的诊断过程
b.目的:0000000
c.失效模