基本信息
文件名称：开关电源的空间辐照损伤机理及抗辐照技术进展.pdf
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总页数：4 页
更新时间：2025-10-19
总字数：约3.76千字
文档摘要
开关电源的空间辐照损伤机理及抗辐照技术进展
能力很关键。
先看辐照损伤机理。电离辐射总剂量效应是高能粒子（比如γ射线、X
Si-SiO
态电荷，这会改变MOSFET
PWM控制器、MOSFET100krad
（Si
位-
变其磁导率和矫顽力，让电感的储能效率下降，影响电源的转换效率。
用下形成瞬态电流。如果打在逻辑电路节