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文件名称:基于自动化设计的测试芯片优化对集成电路成品率提升的影响研究.docx
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更新时间:2025-10-19
总字数:约1.92万字
文档摘要

基于自动化设计的测试芯片优化对集成电路成品率提升的影响研究

一、引言

1.1研究背景

在现代科技飞速发展的浪潮中,集成电路作为电子信息产业的核心基石,其重要性不言而喻,广泛应用于通信、计算机、汽车电子、物联网等诸多领域。从智能手机的高速运行到超级计算机的强大计算能力,从智能汽车的自动驾驶系统到物联网设备的互联互通,集成电路都扮演着关键角色,是推动这些领域技术进步和创新发展的核心力量。近年来,中国集成电路行业展现出蓬勃的发展态势,产量持续攀升,市场规模不断扩张。2024年,中国集成电路产量达到4514.2亿块,同比增长28.4%,销售规模更是达到了14313亿元,彰显出行业的强劲