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文件名称:简述片式厚膜电阻器的典型失效模式机理及原因.pdf
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总页数:6 页
更新时间:2025-10-19
总字数:约6.64千字
文档摘要
简述片式厚膜电阻器的典型失效模式、机理及原因简述片式厚膜电阻器的典型失效模式、机理及原因
摘要:首先,本文对片式厚膜电阻器的工艺流程及片式薄膜电阻器薄膜层形成
原理进行了简单的介绍;然后;对片式厚膜电阻器典型的失效模式和失效机理进
行了总结;最后,通过案例,对片式厚膜电阻器两种典型的失效现象的原因进行
了分析,对于相关工作人员了解片式厚膜电阻器的失效原因和机理,从而改善其
工艺过程具有一定的参考价值。
关键词:片式厚膜电阻器;工艺流程;形成原理;失效模式;失效机理;失
效分析
引言
近年来,随着电子设备朝短小轻薄的方向发展,片式电阻器