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文件名称：芯片设计中的可靠性分析有哪些方法.pdf
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总页数：5 页
更新时间：2025-10-19
总字数：约3.2千字
文档摘要
芯片设计中的可靠性分析有哪些方法
在芯片设计领域，可靠性是至关重要的。芯片要在各种复杂的环境
下稳定工作，就必须经过严格的可靠性分析。那都有哪些方法呢？
一、应力测试法
应力测试是一种常用的可靠性分析方法。它通过对芯片施加各种不
同类型的应力，来检验芯片在极端条件下的性能。比如说温度应力测
试，我们会把芯片放在不同温度环境中。从低温到高温，看看芯片的
性能会发生怎样的变化。在低温环境下，芯片内部的电子迁移速度会
变慢，可能会导致信号传输延迟等问题。而在高温环境中，电子的热
运动加剧，可能会引发电路的漏电等故障。通过这样的温度应力测试，