基本信息
文件名称:半导体器件失效分析手册.pdf
文件大小:136.63 KB
总页数:10 页
更新时间:2025-10-20
总字数:约6.31千字
文档摘要
半导体器件失效分析手册
一、引言
半导体器件在现代电子设备中扮演着至关重要的角色,从手机、电
脑到各种智能家电,几乎无处不在。然而,半导体器件在使用过程中
可能会出现失效的情况,这不仅会影响设备的正常运行,甚至可能导
致整个系统的故障。因此,掌握半导体器件失效分析的方法和技巧,
对于保障电子设备的可靠性和稳定性具有重要意义。本手册将详细介
绍半导体器件失效分析的流程、方法以及常见的失效模式和原因,帮
助工程师和技术人员更好地进行失效分析工作。
二、失效分析流程
(一)失效现象描述
1、收集失