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文件名称:XFEL赋能下的硅纳米线表面构筑与辐照效应解析.docx
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更新时间:2025-10-22
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文档摘要

XFEL赋能下的硅纳米线表面构筑与辐照效应解析

一、引言

1.1研究背景与意义

在纳米科技飞速发展的当下,硅纳米线凭借其独特的物理性质和广泛的应用前景,成为了材料科学领域的研究焦点之一。硅纳米线作为一种典型的一维纳米材料,具有极高的比表面积、显著的表面效应以及量子尺寸效应等特性。这些特性赋予了硅纳米线在电学、光学、热学及力学性能上与体硅材料截然不同的表现,使其在众多领域展现出巨大的应用潜力。

在能源领域,硅纳米线被视为极具潜力的锂离子电池负极材料。传统的碳负极材料在容量方面存在明显的局限性,而硅纳米线由于能够容纳更多的锂离子,理论比容量可高达4200mAh/g,是传统石墨负极(372mAh