基本信息
文件名称:新解读(2025)《GB_T 41805-2022光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法》.pptx
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总页数:52 页
更新时间:2025-10-24
总字数:约1.71千字
文档摘要
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目录
一、为何《GB/T41805-2022》成光学检测新标杆?专家视角剖析显微散射暗场成像法如何重塑未来5年行业质量标准
二、光学元件“隐形杀手”无处藏!标准如何重新定义表面疵病?专家深度解读疵病分类与定量指标新规范
三、暗场成像为何成核心?显微散射技术原理大揭秘:从光物理特性到检测精度突破的底层逻辑解析
四、设备选型有何新门槛?标准下显微散射暗场检测系统技术参数全解析:镜头、光源与探测器的黄金配置指南
五、操作流程如何标准化?从样品制备到图像采集:专家手把手教你掌握标准中的全流程规范与关键控制点
六、数据如何实现“定量”?疵病尺寸、密度与灰度分析算法详解:标准背后的数字