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文档摘要

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扫描透射电镜下玻姆量子轨迹的计算模拟与应用探索

一、引言

1.1研究背景

在现代材料科学研究中，深入了解材料的微观结构对于揭示其性能和开发新型材料至关重要。扫描透射电镜（ScanningTransmissionElectronMicroscopy，STEM）作为一种强大的微观分析技术，能够提供材料原子级别的结构信息，在材料微观结构分析领域占据着举足轻重的地位。自其问世以来，STEM技术不断发展，分辨率持续提高，如今已能够实现原子级分辨成像，为研究人员直接观察材料中的原子排列和缺陷提供了可能。通过STEM，研究者可以清晰地观察到材料中原子的位置、键长、键角等信息，这些微观结构信息对