基本信息
文件名称:2025年广立微分析报告:良率管理国产化标杆,硅光设计软件先行者.pdf
文件大小:1.55 MB
总页数:14 页
更新时间:2025-10-27
总字数:约4.59万字
文档摘要
内容目录
1.“设计+测试+分析”,三驾马车形成完整业务闭环4
2.WAT市占率快速提升,积极拓展其他测试设备品类5
2.1WAT测试设备销量自2020年以来快速提升6
2.2积极向其他测试设备品类拓展,已在WLR、晶圆老化测试设备取得突破7
3.聚焦半导体良率提升相关软件,前瞻布局硅光设计软件8
4.盈利预测与投资建议10
5.风险提示14
图表目录
图表1