基本信息
文件名称:广立微良率管理国产化标杆,硅光设计软件先行者.docx
文件大小:210.24 KB
总页数:19 页
更新时间:2025-10-27
总字数:约2.34万字
文档摘要
内容目录
“设计+测试+分析”,三驾马车形成完整业务闭环 4
WAT市占率快速提升,积极拓展其他测试设备品类 5
WAT测试设备销量自2020年以来快速提升 6
积极向其他测试设备品类拓展,已在WLR、晶圆老化测试设备取得突破 7
聚焦半导体良率提升相关软件,前瞻布局硅光设计软件 8
盈利预测与投资建议 10
风险提示 14
图表目录
图表1:公司正在由WAT测试环节向更多测试环节拓展 4
图表2:不同工艺阶段测试芯片与产品芯片的关系 4
图表3:2018年~2025年上半年公司营收增速及主营业务构成 5
图表4:公司各项业务形成