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文件名称:2025年大学《化学测量学与技术》专业题库—— 化学测量学与技术的表面分析.docx
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总页数:7 页
更新时间:2025-11-05
总字数:约3.42千字
文档摘要
2025年大学《化学测量学与技术》专业题库——化学测量学与技术的表面分析
考试时间:______分钟总分:______分姓名:______
一、选择题(每小题2分,共20分。请将正确选项的字母填在题干后的括号内)
1.在分析固体表面元素组成时,以下哪种技术主要利用电子束与固体表面相互作用产生的二次电离效应?()
A.X射线光电子能谱(XPS)
B.俄歇电子能谱(AES)
C.二次离子质谱(SIMS)
D.扫描隧道显微镜(STM)
2.X射线光电子能谱(XPS)主要用于分析物质表面的()。
A.微观形貌和纹理