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文件名称:2025至2030中国半导体测试设备行业探针卡国产化进度与测试效率提升报告.docx
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总页数:23 页
更新时间:2025-11-06
总字数:约2.12万字
文档摘要
2025至2030中国半导体测试设备行业探针卡国产化进度与测试效率提升报告
目录
TOC\o1-3\h\z\u一、行业现状与发展背景 3
1、全球及中国半导体测试设备市场概况 3
年前全球探针卡市场格局与技术演进 3
中国半导体测试设备进口依赖现状与国产替代迫切性 5
2、探针卡在半导体测试环节中的关键作用 6
探针卡在晶圆测试(CP)与封装测试(FT)中的功能定位 6
高端芯片对探针卡性能与精度的特殊要求 7
二、国产化进展与核心企业分析 9
1、国内探针卡主要厂商发展现状 9
2、国产替代进程中的关键突破与瓶颈 9