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文件名称:《GB_T 5252-2020锗单晶位错密度的测试方法》专题研究报告.pptx
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总页数:44 页
更新时间:2025-11-07
总字数:约小于1千字
文档摘要
;目录;;;GB/T5252-2020修订的核心驱动力是什么?
核心驱动力源于两方面:一是下游应用领域对锗单晶位错密度控制精度的需求提升,如红外探测器芯片要求位错密度低于100cm-2;二是旧标;;;;;;;;;标准中规定的主要测试方法有哪两类?各自适用场景是什么?;;;两类测试方法的检出限与精度指标有何提升?;;;;;;;;视场数量与大小选择需遵循哪些原则?;照明条件对观测结果有何影响?标准中如何规范照明参数?;观测过程中如何避免人员主观误差?;;标准中规定的位错密度计算公式是什么?各参数含义如何界定?;;数据处理过程中如何进行异常值剔除?;计算结果的有效数字与修约规则是什么?