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4.5.单颗粒光谱学

5.单颗粒光谱学纳米技术的进步使得纳米发光材料在成像、传感和光子器件的应用中取得了巨大的进展。尽管材料是从同一批合成的，但每个纳米颗粒的尺寸、形状、缺陷、表面基团和电荷往往是不同的，即使是同一颗粒也存在不均匀的分布。这些是与材料科学、晶体学和界面化学相关的基础研究中的核心问题，对再现性、功能性和应用至关重要。传统光谱仪可以显示出纳米颗粒的统计性质，例如平均发光强度，平均荧光寿命等，但是无法分析单个颗粒对激发光源的光谱响应。因此，对纳米材料的组元（即单个发光纳米颗粒）的光物理性质进行测量极其重要。

原子力显微镜（AFM）和电子显微镜（SEM、TEM）是用来观测单个纳米颗粒结