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文件名称:反应磁控共溅射法制备金属掺杂V?O?薄膜及其性能特性的深度剖析.docx
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总页数:17 页
更新时间:2025-11-12
总字数:约2.15万字
文档摘要
反应磁控共溅射法制备金属掺杂V?O?薄膜及其性能特性的深度剖析
一、引言
1.1研究背景与意义
随着材料科学与技术的飞速发展,新型功能薄膜材料的研究成为了众多领域的焦点。五氧化二钒(V?O?)薄膜作为一种具有独特物理化学性质的功能材料,在能源、传感器、光电器件等领域展现出了巨大的应用潜力,引起了科研人员的广泛关注。
V?O?薄膜具有典型的半导体性质,其带隙范围为2.3-2.5eV,这一特性使其在透明导电薄膜应用中具有显著优势,能够在保持高透光性的同时提供一定的导电性。此外,V?O?还具有较高的理论比容量,在锂离子电池正极材料方面具有潜在的应用价值,理论比容量可达到约294mAh/