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文件名称:超深亚微米CMOS器件GIDL电流特性及可靠性提升策略研究.docx
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更新时间:2025-11-15
总字数:约2.69万字
文档摘要
超深亚微米CMOS器件GIDL电流特性及可靠性提升策略研究
一、绪论
1.1研究背景与意义
自20世纪60年代CMOS技术起源以来,其在微电子领域的发展可谓日新月异。早期,CMOS技术作为存储器技术崭露头角,凭借低功耗特性,逐渐在与双极型晶体管技术的竞争中占据上风。随着制造工艺的持续进步,CMOS技术迅速拓展至数字逻辑电路领域。20世纪90年代,随着0.5微米工艺的成功实现,CMOS技术正式迈入深亚微米时代,开启了集成度和性能大幅提升的新篇章。进入21世纪,CMOS技术更是朝着更小尺寸不断迈进,90纳米、65纳米、45纳米等先进工艺节点相继问世,在速度