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文件名称：电容失效模式及失效机理.pdf
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总页数：7 页
更新时间：2025-11-16
总字数：约1.22万字
文档摘要
电容器失效模式和失效机理
电容器的常见失效模式有:击穿、开路、电参数变化(包括电容虽超差、损耗角正切值增人、绝缘
性能下降或漏电流上下班升等)、漏液、引线腐蚀或断裂、绝缘了破裂或农面飞弧等-引起电容器失效
的原因是多种多样的各类电容器的材料、结构、制造工艺、性能和使用环境各不相同,失效机理也各
不一样
各种常见失效模式的主要产生机理归纳如下.
1、常见的七种失效模式
(1)引起电容器击穿的主要失效机理
①电介质材料有磁点或缺陷，或含有导电杂质或导电粒了；
②电介质的电老化与热老化；
③电介质内部的电化学反应；
④银离子迁移；
⑤电介