基本信息
文件名称:《GB_T 14028-2018半导体集成电路 模拟开关测试方法》专题研究报告.pptx
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总页数:42 页
更新时间:2025-11-17
总字数:约小于1千字
文档摘要
《GB/T14028-2018半导体集成电路模拟开关测试方法》专题研究报告;目录;;模拟开关的产业地位:为何测试标准是“芯”安全的第一道防线;(二)标准的核心价值:从研发到量产,GB/T14028-2018的全链条指导意义;;;;;;;测试样品的要求:什么样的模拟开关才有“被测试资格”;;;;;(二)导通压降测试:低电压场景下,压降指标为何成为“关键门槛”;(三)参数一致性测试:批量生产中,如何确保每颗器件性能“步调一致”;;直流隔离电阻测试:静态场景下,如何衡量开关的“绝缘能力”;(二)交流隔离度测试:高频信号下,“串扰”抑制能力的量化方法;;