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文件名称:《GB_T 4377-2018半导体集成电路 电压调整器测试方法》专题研究报告.pptx
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总页数:33 页
更新时间:2025-11-19
总字数:约1.09千字
文档摘要

《GB/T4377-2018半导体集成电路电压调整器测试方法》专题研究报告;目录;;电压调整器在半导体产业链中的“中枢”地位;(二)标准出台前行业测试的“乱象”与隐患;;;标准对测试环境的“精细化”规范;

(二)核心测试设备的“性能门槛”与选型指南

标准要求直流稳压电源输出精度≤±0.1%,负载电阻调节范围0~10kΩ且精度±1%,示波器带宽≥100MHz、采样率≥1GS/s。选型时需优先匹配这些参数,同时考虑设备校准周期——按标准要求,测试设备需每12个月校准一次,确保测量准确性。

未来测试设备的“智能化”升级趋势

结合行业趋势,未来测试