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文件名称:芯片测试工程师职业资格认证考试题.docx
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总页数:13 页
更新时间:2025-11-21
总字数:约4.06千字
文档摘要

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芯片测试工程师职业资格认证考试题

一、单选题(共5题,每题2分,总计10分)

1.在芯片测试过程中,以下哪项是ATE(自动测试设备)的核心功能?

A.芯片设计

B.测试程序编写

C.自动化测试执行

D.芯片封装

2.对于高性能处理器芯片,以下哪项测试指标通常最为关键?

A.电压容差

B.功耗效率

C.峰值频率

D.低温存储稳定性

3.在半导体测试领域,边界扫描测试(BoundaryScanTesting)主要用于解决哪种问题?

A.内部短路

B.信号完整性

C.I/O引脚故障

D.时序违规

4.以下哪种测试方法