基本信息
文件名称：ADVanTEST安培测试Memory Test SystemT5383 T5377S说明书.pdf
文件大小：110.85 KB
总页数：2 页
更新时间：2025-11-21
总字数：约7.59千字
文档摘要
MemoryTestSystem
T5383
ParallelTestforUpto384Devices.
FlexiblePinConfigurationDrivesLowerCostofTest.
IntheDRAMmanufacturingIndustrysFastestTest,T5383MajorSpecifications
process,shrinkinggeometrie