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2月1+X集成电路理论练习题库+参考答案

一、单选题（共30题，每题1分，共30分）

1.下列描述错误的是（）。

选项A、重力式分选机可分为并行测试和串行测试

选项B、串行测试一般是进行多项测试，适用于DIP24/DIP27等模块电路

选项C、并行测试时模块电路依次进行不同电特性参数的测试

选项D、并行测试一般是进行单项测试（可根据测试卡的数量进行1site/2sites/4sites测试），适用于普通DIP/SOP封装的芯片

答案：(C)

答案解析：并行测试是对多个芯片同时进行相同或不同电特性参数的测试，不是模块电路依次进行不同电特性参数的测试。串行测试才是模块电路依次进行不同电特性