基本信息
文件名称：T_COS 029-2025 电子封装用高硅铝合金化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法.docx
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总页数：19 页
更新时间：2025-11-23
总字数：约6.77千字
文档摘要
ICS01.040.01C65
T/COS
团体标准
T/COS029-2025
电子封装用高硅铝合金化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法
Methodsforchemicalanalysisofhighsiliconaluminumalloyfor
electronicpackagingDeterminationoftraceimpurityelements
contents—Dlowdischargemassspectrometry
2025-10-01发布