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文件名称:(2025年)硬件测试工程师笔试题附答案.docx
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总页数:11 页
更新时间:2025-11-24
总字数:约5.06千字
文档摘要
(2025年)硬件测试工程师笔试题附答案
一、基础理论题(每题5分,共30分)
1.简述TTL与CMOS逻辑电平的主要差异,包括典型高/低电平范围、噪声容限及功耗特性。
答案:TTL(晶体管-晶体管逻辑)高电平典型范围为2.4V-5V,低电平≤0.4V;CMOS(互补金属氧化物半导体)高电平接近电源电压(如3.3V系统为3.3V),低电平接近0V。噪声容限方面,CMOS的高/低电平噪声容限均约为电源电压的30%(如3.3V系统约1V),高于TTL(约0.4V)。功耗上,TTL静态功耗较高(约10mW/门),CMOS静态功耗极低(微瓦级),但动态功耗随频率升高显著增加。
2.某电源模块输