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文件名称:磁控溅射法制备金属掺杂In?O?薄膜:工艺、结构与性能的深度探究.docx
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更新时间:2025-11-26
总字数:约2.6万字
文档摘要

磁控溅射法制备金属掺杂In?O?薄膜:工艺、结构与性能的深度探究

一、引言

1.1研究背景与意义

在材料科学的广阔领域中,透明导电氧化物(TCO)薄膜凭借其独特的光学和电学性能,成为众多光电器件的关键组成部分。氧化铟(In?O?)薄膜作为TCO薄膜的杰出代表,以其高透明度和良好的导电性,在平板液晶显示器、太阳能电池、发光二极管等光电领域展现出广泛的应用前景。

In?O?是一种宽禁带半导体材料,禁带宽度约为3.6-4.3eV。在可见光范围内,它具有出色的透光性,透光率通常可达80%以上,这使得光线能够高效地透过薄膜,为显示设备提供清晰、明亮的视觉效果,以及为太阳能电池捕获更多