基于SWI技术探究HIE脑髓静脉改变特征及其与预后关联的研究

一、引言

1.1研究背景

新生儿缺氧缺血性脑病（Hypoxic-IschemicEncephalopathy，HIE）是新生儿期最常见的一种致死性和致残性疾病，严重威胁新生儿的生命健康和生存质量。其主要病因是围生期窒息，导致脑部缺氧缺血，进而引发一系列病理生理变化和脑损伤。我国新生儿HIE发病率达3‰-6‰，在全球范围内，其发生率在新生儿中也处于较高水平。尽管随着医学技术的不断进步和临床治疗水平的提高，HIE的死亡率呈现下降趋势，但仍然有相当一部分HIE患儿可能发展成脑瘫、智力障碍、癫痫等神经系统功能不全