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文件名称:光学浮区法:β-Ga?O?单晶生长的关键技术与性能剖析.docx
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总页数:29 页
更新时间:2025-11-28
总字数:约3.72万字
文档摘要
光学浮区法:β-Ga?O?单晶生长的关键技术与性能剖析
一、引言
1.1研究背景与意义
随着现代科技的飞速发展,半导体材料作为电子产业的基石,始终是科研领域的研究热点。从第一代半导体材料硅(Si)、锗(Ge),到第二代化合物半导体材料砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP),再到第三代宽禁带半导体材料碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN),每一次半导体材料的革新,都推动了电子器件性能的巨大飞跃,进而引发了相关产业的深刻变革。如今,第四代半导体材料崭露头角,其中β-Ga?O?单晶凭借其独特的物理性质和卓越的性能,在半导体领域中占据了重要地位,成为了科研人员研究的重点对象。
β-Ga?O?是氧