基本信息
文件名称：《芯片测试与安全》课件 第4章 可测试性设计(DFT).pdf
文件大小：2.11 MB
总页数：42 页
更新时间：2025-11-29
总字数：约6.94千字
文档摘要
第4章
可测试性设计(DFT)
扫描
?扫描（Scan）是最广泛使用的DFT技术。
?扫描将全部或大部分存储单元转换为扫描单元：
?在测试模式下可被控制和观测；
?在正常模式下功能透明，不影响电路原有行为。
?扫描单元相互连接，构成移位寄存器，也称为扫描链。
扫描单元
muxed-DscancellclockedscanFF