基本信息
文件名称：《芯片测试与安全》课件 第3章 测试与故障仿真.pdf
文件大小：1.9 MB
总页数：56 页
更新时间：2025-11-29
总字数：约9.32千字
文档摘要
第3章
测试与故障仿真
组合ATPG
?随机测试生成（RTG）
?随机为每个初级输入（PI）赋值0或1。
?若电路中存在难以被随机向量激活或传播，则效率极低。
?穷举测试
?枚举所有2^N种可能的测试向量（N为输入数）。
?对于大型电路，计算量和测试时间呈指数增长，效率极低。
D算法
5-值代数：
?logic1
?logic0
?