基本信息
文件名称：《芯片测试与安全》课程教学大纲.pdf
文件大小：335.11 KB
总页数：11 页
更新时间：2025-11-29
总字数：约1.08万字
文档摘要
《芯片测试与安全》课程教学大纲
一、课程基本信息
（1）课程名称（中英文）
中文名称：芯片测试与安全
英文名称：IntroductiontoChipSecurityandTestMethods
（2）学时与学分
总学时：40学时(建议32理论学时+8实验学时)
学分：2.5
（3）先修课程课程
《C语言与数据结构》、《数字电路与逻辑设计》、《线性代数》
(4)适用学科专业
网络空间安全，集成电