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文件名称:模式识别基础:分类器设计_(12).过拟合与欠拟合问题.docx
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总页数:9 页
更新时间:2025-11-30
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文档摘要
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过拟合与欠拟合问题
在模式识别中,分类器的设计是一个关键步骤,它直接影响到模型的性能。然而,在设计分类器时,经常会遇到两个常见的问题:过拟合(Overfitting)和欠拟合(Underfitting)。这两个问题严重制约了模型的泛化能力和实际应用效果。本节将详细介绍过拟合和欠拟合的原理、表现形式以及如何解决这些问题。
过拟合(Overfitting)
定义
过拟合是指模型在训练数据上表现得过于优秀,以至于它学习了训练数据中的噪声和细节,而这些噪声和细节在新的、未见过的数据上并不具备泛化能力。简而言之,过拟合的模型在训练集上表现很好,但在测试集或实际应用