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文件名称:2025年无损检测资格证考试无损检测质量改进试卷及答案.docx
文件大小:27.19 KB
总页数:22 页
更新时间:2025-12-03
总字数:约5.07千字
文档摘要

2025年无损检测资格证考试无损检测质量改进试卷及答案

一、单项选择题(每题1分,共30分。每题只有一个正确答案,请将正确选项的字母填入括号内)

1.在射线检测中,导致底片黑度偏低的最常见原因是()。

A.曝光时间不足

B.显影液温度过高

C.射线源强度过大

D.增感屏老化

答案:A

2.超声检测中,使用双晶探头的主要目的是()。

A.提高穿透能力

B.减小盲区

C.提高分辨率

D.降低噪声

答案:B

3.磁粉检测时,若工件表面存在油脂,最可能导致的后果是()。

A.磁痕模糊

B.磁粉聚集过多

C.磁化电流过大