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文档摘要

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ICS77.040

CCSH17

中华人民共和国国家标准

/—

GBT43262025

代替/—

GBT43262006

非本征半导体单晶霍尔迁移率和

霍尔系数测量方法

Extrinsicsemiconductorsinlecrstalsmeasurementof

gy

HallmobilitandHallcoefficient

y

2025-10-31发布2026-05-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT43262025

前言

/—《:》

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GBT1.120201

起草。

/—《》,

本文件代替GBT43262006非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法与

/—,,:

GBT43262006相比除结构调整和编辑性改动外主要技术变化如下

)(,);

更改了范围见第章年版的第章

a120061

)(,);

更改了术语和定义见第章年版的第章

b320062

)(,);

更改了方法原理见第章年版的第章

c420063

)(,);

更改了干扰因素见第章年版的第章

d520068

)();

增加了试验条件见第章

e